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技術(shù)支持

X射線熒光光譜儀的優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)
更新時(shí)間:2019-12-16   點(diǎn)擊次數(shù):1801次
X射線熒光光譜儀利用初級(jí)X射線光子或其他微觀離子激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光(次級(jí)X射線)而進(jìn)行物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)研究的方法。
 
X射線熒光光譜儀的優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)介紹:
 
a) 分析速度高。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān),2~5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。
 
b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān),而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒關(guān)系(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi),這種效應(yīng)更為顯著。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定 。
 
c) 非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變,也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量,結(jié)果重現(xiàn)性好。
 
d) X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
 
e) 分析精密度高。
 
f) 制樣簡(jiǎn)單,固體、粉末、液體等都可以進(jìn)行分析。

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